EDI（EDI膜塊）法除去二氧化碳是它的性能的一個(gè)重要方面。當(dāng)二氧化碳存在于離子交換進(jìn)水流中時(shí)，二氧化碳在陰離子樹脂的離子交換地點(diǎn)同二氧化硅相競(jìng)爭(zhēng)。二氧化碳常代表在離子交換系統(tǒng)上的最大陰離子負(fù)載，特別地當(dāng)RO（RO反滲透膜）裝置置于離子交換裝置前時(shí)。過量二氧化碳的存在既限制離子交換樹脂除去二氧化硅的容量，又限制離子交換床除去二氧化硅的效率。如將在18.6.1節(jié)中討論，二氧化硅去除在發(fā)電和半導(dǎo)體生產(chǎn)中是臨界的。過量的二氧化碳存在實(shí)際上使工廠暴露出潛在的嚴(yán)重的二氧化硅問題。二氧化碳通常不能通過其他的如RO和EDR的膜脫鹽法被除去，除非作出改變堿度水平的化學(xué)調(diào)節(jié)。另一方面，在大多數(shù)應(yīng)用中，EDI是一種常規(guī)的使CO₂水平降低到99％以上的膜脫鹽方法。